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金属成分分析的简介
X-射线荧光光谱
(X-ray fluorescence spectrometry, XFS)是一种非破坏性的分析方法，可对固体样品直接测定。在纳米材料成分分析中具有较大的优点;X射线荧光光谱仪有两种基本类型波长色散型和能量色散型;具有较好的定性分析能力，可以分析原子序数大于3的所有元素。本低强度低，分析灵敏度高，其检测限达到10-5～10-9g/g(或g/cm3);可以测定几个纳米到几十微米的薄膜厚度。

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成分分析对样品的需求 样品的特殊要求：
产品通过成分分析是否能获得的定性定量结果，对样品的要求较为严格，通常需要考虑如下几个要点：
1、样品是否含有天然未知成分？例如中药药膏、海底沉积物、外星陨石等，这些样品中含有天然的未经验证的成分，这样的样品想通过成分分析获得的定性定量结果，难度非常大。
2、样品量是否足够？一般成分分析会采用多个步骤、多个分析分离手段，对样品的需求量比较大，需要样品进行反复验证，如果量只有几毫升，很难获得好的分析结果。
3、样品是否稳定？样品如果在空气中极不稳定，也很难分析其成分。
4、样品是否生物活性样品?如果是带生物活性的样品，常规理化分析手段很难获得信息。
5、样品是否属于反应后产物?例如橡胶、塑料、高分子材料，都是经过反应得到的聚合物。

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