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金属成分分析的简介
电感耦合等离子体原子发射光谱
(Inductivelycoupledplasmaatomicemissionspectrometry, ICP-AES)。ICP是利用电感耦合等离子体作为激发源，根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法;可进行多元素同时分析，适合近70种元素的分析;很低的检测限，一般可达到10-1～10-5μg/cm-3;稳定性很好，精密度很高，相对偏差在1%以内，定量分析效果好;线性范围可达4～6个数量级;但是对非金属元素的检测灵敏度低

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金属成分分析的简介
X-射线荧光光谱
(X-ray fluorescence spectrometry, XFS)是一种非破坏性的分析方法，可对固体样品直接测定。在纳米材料成分分析中具有较大的优点;X射线荧光光谱仪有两种基本类型波长色散型和能量色散型;具有较好的定性分析能力，可以分析原子序数大于3的所有元素。本低强度低，分析灵敏度高，其检测限达到10-5～10-9g/g(或g/cm3);可以测定几个纳米到几十微米的薄膜厚度。

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